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연구장비
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전계방사형주사전자현미경
모델명:
S-4300SE
제작사:
HITACHI
구입년월:
200204
장비위치:
공동실험실습관 4층 34410호
고온변형시험기
모델명:
Gleeble 3500
제작사:
Dynamic System Inc.
구입년월:
200306
장비위치:
공동실험실습관 4층 34408호
(불용)단결정 X-선 회절분석기(Single Crystal X-Ray Diffractometer)
모델명:
R-AXIS RAPID Ⅱ
제작사:
RIGAKU
구입년월:
200805
장비위치:
공동실험실습관 302호
(불용)X-선 광전자 분광기(X-Ray Photoelectron Spectrometer)
모델명:
K-Alpha
제작사:
THERMO FISHER
구입년월:
200910
장비위치:
공동실험실습관 301호
열분석기(열중량분석기-시차주사열량계)(Thermal Analyzer System(Thermogravimetric Analyzer-Differential Scanning Calorimeter))
모델명:
DSC Q200/TGA Q50
제작사:
TA INSTRUMENTS
구입년월:
201009
장비위치:
공동실험실습관 303호
전계방사형 주사전자현미경 Ⅰ(Field Emission Scanning Electron Microscope Ⅰ)
모델명:
JSM-7100F
제작사:
JEOL
구입년월:
201212
장비위치:
공동실험실습관 102호
총유기탄소분석기(Total Organic Carbon Analyzer)
모델명:
SIEVERS InnovOx
제작사:
GE ANALYTICAL
구입년월:
201212
장비위치:
공동실험실습관 307호
형광 분광광도계 & 자외선 분광광도계(Fluorescence Spectrophotometer & UV Spectrophotometer)
모델명:
LS-55 & Lambda 25
제작사:
PERKIN ELMER
구입년월:
201311
장비위치:
공동실험실습관 201호
(불용)유도결합 플라즈마-원자방출분광기(Inductively Coupled Plasma-Atomic (Optical) Emission Spectrometer)
모델명:
OPTIMA 8300
제작사:
PERKIN ELMER
구입년월:
201310
장비위치:
공동실험실습관 203호
삼안 편광 현미경(Trinocular Polarizing Microscope)
모델명:
DM4500P
제작사:
LEICA
구입년월:
201310
장비위치:
공동실험실습관 309호